半導體分立器件的恒加速度試驗

半導體分立器件的恒加速度試驗，是為了確定離心力對器件的影響。恒定加速度試驗是一種加速試驗，以檢驗在沖擊和振動試驗中不一定能檢查出來的結構和機械上的缺陷。

下面，環(huán)儀小編帶大家認識一下半導體分立器件的恒定加速度試驗。

設備準備：

試驗樣品：按照標準要求中的半導體分立器件

試驗設備：轉臂式恒加速度離心機

設備型號：HYZB系列

設備廠家：環(huán)儀儀器

試驗程序：

應通過外殼或正常安裝把器件固定住，引線或電纜應適當保護，然后對器件在X1、X2、Y1、Y2、Z1和Z2各方向上加規(guī)定的離心加速度1min。

加速度逐漸增加到規(guī)定值的時間不少于20s，加速度逐漸減到零的時間不少于20s。

詳細規(guī)范中應規(guī)定下列細節(jié):

a.所加離心加速度大小，以(m/s2)為單位;

b.試驗后所進行的測試。

轉臂恒加速度離心機參數(shù)：