高低溫氣流沖擊儀廣泛應用于半導體芯片、閃存（Flash/EMMC）、PCB電路板IC、光通訊設備（如收發器transceiver和SFP光模塊的高低溫測試）以及電子行業等領域，進行IC特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試和失效分析等可靠性試驗。
技術參數：
產品性能：
1.配有3 個 USB-Type A、1 個 USB-Type B、IEEE-488、LAN、RS-232、T 型、K 型和 RTD 溫度傳感器，以及自動啟動測試和結束測試，用于自動溫度循環熱-冷-環境。
2.系統的觸摸屏讓操作員可以在用戶測試臺工作站上控制溫度設置、升降溫和循環。
3.單獨的溫控干燥空氣吹掃，可在極冷溫度下的長時間測試期間保持周圍測試區域無霜運行。
4.兩種用戶控制模式——標準操作員和溫度循環。
產品應用：
1.通過對半導體芯片和其他電子元件進行高低溫測試，可以了解其在不同溫度條件下的性能表現，幫助優化產品設計。
2.模擬產品在實際使用過程中可能遇到的極端溫度變化，以評估其穩定性和可靠性。
3.快速改變溫度，產生熱脹冷縮效應，從而檢測產品內部結構是否能夠承受這種應力。
4.通過反復的高低溫循環和溫度沖擊試驗，可以加速產品的老化過程，暴露潛在的設計或制造缺陷，為改進提供依據。
如有高低溫氣流沖擊儀的選型疑問，可以咨詢環儀儀器相關技術人員。
