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目前，IC芯片、LED芯片等智能存儲芯片在出廠檢測時需要進行極端環境下的可靠性測試，以測試確定芯片失效時所處的溫差區間。這些測試需要使用冷熱沖擊試驗熱流儀，下面
冷熱沖擊試驗熱流儀可進行溫度沖擊試驗測試，能提供精確的設置要求，可用于研究電子元件的熱阻，還可對電子元件進行溫度循環和熱沖擊試驗。可作為電子元件和材料表征的方法
高低溫熱流儀是一種快速、控溫精確的高低溫沖擊系統，溫控范圍從-80C到+225℃，適用于各種應用。高低溫熱流儀可對對電子元件和材料進行熱試驗和表征，進而提高它們
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