為了測(cè)試SSD固態(tài)硬盤的“軟件讀寫性能測(cè)試”，在測(cè)試過(guò)程中，需要使用高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱和常溫存放H2test校驗(yàn)測(cè)試，為了讓大家了解固態(tài)硬盤的高低溫讀寫性能，接下來(lái)我們?yōu)榇蠹抑v述該方法的主要過(guò)程。
SSD固態(tài)硬盤高低溫讀寫性能：
試驗(yàn)設(shè)備：環(huán)儀儀器 固態(tài)硬盤高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱
測(cè)試軟件：BurnInTest、H2test
測(cè)試環(huán)境：高溫75℃/低溫-10℃
測(cè)試樣品：某品牌SSD固態(tài)硬盤
測(cè)試過(guò)程：
測(cè)試開(kāi)始前，設(shè)置程序，先升溫到75℃，持續(xù)12小時(shí)，然后逐漸降溫至-10℃，持續(xù)12小時(shí)，共經(jīng)歷3次循環(huán)，合計(jì)72小時(shí)。經(jīng)過(guò)72小時(shí)的高低溫循環(huán)后，PassMark BurnInTest的判定通過(guò)。
說(shuō)明SSD在72小時(shí)的高溫和低溫的循環(huán)下，能夠進(jìn)行正常的滿載傳輸，按照電腦正常滿載運(yùn)作，CPU溫度達(dá)到60℃時(shí)會(huì)出現(xiàn)卡頓現(xiàn)象，但能夠在75℃高溫或者-10℃低溫下穩(wěn)定進(jìn)行滿載工作。
此外，為了檢測(cè)產(chǎn)品內(nèi)部是否有產(chǎn)生壞塊，用來(lái)專業(yè)檢測(cè)固態(tài)硬盤壞塊的軟件H2testw進(jìn)行常溫下48小時(shí)滿盤寫入+校驗(yàn)，目的這是為了檢測(cè)在如此苛刻條件下，硬盤是否會(huì)產(chǎn)生壞塊的情況。
以上就是固態(tài)硬盤的高低溫循環(huán)試驗(yàn)過(guò)程，如對(duì)試驗(yàn)有疑問(wèn)，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
